memtest86 pro版是一款非常專業(yè)的電腦內(nèi)存檢測軟件。它具有可從USB啟動、支持UEFI BIOS、支持壓電揚聲器音頻、支持帶鼠標的圖形界面等功能，提供全內(nèi)存容量檢測服務(wù)，免費下載，歡迎體驗。

【使用說明】

　　解壓到U盤根目錄。進BIOS選擇U盤的UEFI 啟動就可以自動運行。

　　MemTest86 執(zhí)行一系列編號的測試部分來檢查錯誤。這些測試部分由測試算法、數(shù)據(jù)模式和緩存設(shè)置的組合組成。安排這些測試的執(zhí)行順序，以便盡快檢測到錯誤。每個測試部分的描述如下：

　　測試 0 [地址測試，步行測試，1 CPU]

　　使用遍歷地址模式測試所有內(nèi)存庫中的所有地址位。該測試由單個 CPU 內(nèi)核執(zhí)行。

　　測試1【地址測試，自有地址，1個CPU】

　　每個地址都寫入自己的地址，然后檢查其一致性。理論上，以前的測試應(yīng)該已經(jīng)發(fā)現(xiàn)了任何內(nèi)存尋址問題。此測試應(yīng)捕獲以前未檢測到的任何尋址錯誤。該測試由單個 CPU 內(nèi)核執(zhí)行。

　　測試2【地址測試，自己的地址】

　　與測試 1 相同，但測試使用多個 CPU（如果適用）完成。

　　測試 3 [移動反轉(zhuǎn)、一和零、平行]

　　此測試使用具有全 1 和全零模式的移動反轉(zhuǎn)算法。即使緩存在某種程度上干擾了測試算法，它也會啟用。啟用緩存后，此測試不會花費很長時間，并且應(yīng)該可以快速找到所有“硬”錯誤和一些更細微的錯誤。

　　測試 4 [移動反轉(zhuǎn)，8 位模式]

　　這與測試 3 相同，但使用 8 位寬的“行走”1 和 0 模式。該測試將更好地檢測“寬”內(nèi)存芯片中的細微錯誤。

　　測試 5 [移動反轉(zhuǎn)，隨機模式]

　　測試 5 使用與測試 4 相同的算法，但數(shù)據(jù)模式是隨機數(shù)并且是補碼。此測試在發(fā)現(xiàn)難以檢測的數(shù)據(jù)敏感錯誤方面特別有效。每次傳遞的隨機數(shù)序列都不同，因此多次傳遞可以提高效率。

　　測試6【格擋招式，64招式】

　　該測試通過使用塊移動 (movsl) 指令來強調(diào)內(nèi)存，并且基于 Robert Redelmeier 的 burnBX 測試。內(nèi)存使用每 8 個字節(jié)反轉(zhuǎn)一次的移位模式進行初始化。然后使用 movsl 指令移動 4mb 的內(nèi)存塊。移動完成后，檢查數(shù)據(jù)模式。因為只有在內(nèi)存移動完成后才會檢查數(shù)據(jù)，所以不可能知道錯誤發(fā)生在哪里。報告的地址僅適用于發(fā)現(xiàn)錯誤模式的位置。由于移動被限制在 8mb 的內(nèi)存段中，因此失敗的地址與報告的地址之間的距離總是小于 8mb。此測試的錯誤不用于計算 BadRAM 模式。

　　測試 7 [移動反轉(zhuǎn)，32 位模式]

　　這是移動反轉(zhuǎn)算法的一種變體，它為每個連續(xù)的地址將數(shù)據(jù)模式左移一位。每次通過的起始位位置左移。要使用所有可能的數(shù)據(jù)模式，需要 32 遍。該測試在檢測數(shù)據(jù)敏感錯誤方面非常有效，但執(zhí)行時間較長。

　　測試8【隨機數(shù)序列】

　　該測試將一系列隨機數(shù)寫入內(nèi)存。通過重置隨機數(shù)的種子，可以創(chuàng)建相同的數(shù)字序列以供參考。檢查初始模式，然后在下一次通過時再次補充和檢查。然而，與移動倒置不同，測試寫入和檢查只能在正向進行。

　　測試 9 [模 20，隨機模式]

　　使用 Modulo-X 算法應(yīng)該可以發(fā)現(xiàn)由于緩存和緩沖對算法的干擾而無法通過移動反轉(zhuǎn)檢測到的錯誤。

　　測試 10 [位褪色測試，2 種模式]

　　位褪色測試使用模式初始化所有內(nèi)存，然后休眠幾分鐘。然后檢查內(nèi)存以查看是否有任何內(nèi)存位發(fā)生了變化。使用全一和全零模式。

　　測試11【隨機數(shù)序列，64位】

　　此測試與測試 8 相同，但使用的是本機 64 位指令。

　　測試12【隨機數(shù)序列，128位】

　　此測試與測試 8 相同，但使用了本機 SIMD（128 位）指令。

　　測試 13 [錘子測試]

　　行錘測試暴露了 RAM 模塊 2010 或更高版本的基本缺陷。當在短時間內(nèi)重復訪問同一存儲庫但不同行中的地址時，此缺陷會導致干擾錯誤。行的重復打開/關(guān)閉導致相鄰行中的電荷泄漏，可能導致位翻轉(zhuǎn)。

　　該測試通過以重復方式交替讀取兩個地址來“錘擊”行，然后驗證其他地址的內(nèi)容是否存在干擾錯誤。有關(guān) DRAM 干擾錯誤的更多詳細信息，請參閱在不訪問內(nèi)存的情況下翻轉(zhuǎn)內(nèi)存中的位：Yoongu Kim 等人的 DRAM 干擾錯誤的實驗研究。

　　從 MemTest86 v6.2 開始，可能會執(zhí)行兩次行錘測試。在第一次通過時，地址對以盡可能高的速率被敲擊。如果在第一次通過時檢測到錯誤，則不會立即報告錯誤并開始第二次通過。在此過程中，地址對以較低的速率被錘擊，內(nèi)存供應(yīng)商認為這是最壞的情況（每 64 毫秒 20 萬次訪問）。如果在此過程中也檢測到錯誤，則將錯誤正常報告給用戶。

【更新內(nèi)容】

　　修復/增強

　　添加了新的配置文件參數(shù)“MAXCPUS”，用于設(shè)置用于測試的 CPU 邏輯內(nèi)核的最大數(shù)量。默認情況下，此值為 256（專業(yè)版）和 16（免費版）。此參數(shù)可設(shè)置為最大值 512。

　　添加了新的配置文件參數(shù)“AUTOPROMPTFAIL”，用于指定是否顯示測試結(jié)果并在測試失敗時要求用戶干預，即使啟用了 AUTOMODE

　　添加了新的配置文件命名約定，允許根據(jù)內(nèi)存大小使用單獨的配置文件：<Memory-size-in-GB>GB-mt86.cfg

　　修復了內(nèi)存大小計算以使用舍入而不是截斷

　　如果檢測到更正的 ECC 錯誤，則在測試完成時以黃色（而不是綠色）顯示 PASS 消息框

　　如果在 SPDMATCH=1 時未找到有效的 SPD.spd 文件，則顯示錯誤消息

　　如果 SPDMATCH=1 時未檢測到 SPD 模塊，則顯示錯誤消息

　　啟動期間無法測量 CPU 時鐘速度時顯示錯誤消息并退出 MemTest86

　　更新了 XML 消息以包含發(fā)送到 PXE 服務(wù)器/管理控制臺的 CPU 信息和 SMBIOS 信息

　　增加了對 Intel Tiger Lake H 芯片組的 ECC 支持

　　增加了對 Intel Rocket Lake 芯片組的 ECC 支持

　　增加了對 Intel Alder Lake 芯片組的 ECC 支持

　　增加了對 Intel Ice Lake-SP 芯片組的 ECC 支持

　　添加了對檢索 Intel Elkhart Lake 芯片組的 CPU 信息的支持

　　添加了對檢索 Intel Alder Lake 芯片組的 DIMM 溫度 (TSOD) 的支持

　　修復了由于禁用 CPU 周期計數(shù)器 (PMCCNTR) 而導致測量 ARM64 CPU 時鐘速度的問題

　　修復了 HTML 報告以在復制/粘貼時在文本中顯示錯誤位圖

　　修復了 HTML 報告中的 Linux badram 條目與頁面大小對齊（4096 字節(jié)）

　　修復了每行末尾出現(xiàn)空格時 SPD.spd 文件的解析錯誤

　　修復了顯示 RAM SPD DDR5 特定信息的問題

　　修復了對免費版本中有限數(shù)量的命令行參數(shù)的支持

　　修復了 SPD 信息屏幕中文本溢出的錯誤

　　修復了保存配置文件時未寫入 REPORTNUMWARN 配置文件參數(shù)

　　Site Edition 軟件包中包含 Serva PXE 服務(wù)器配置文件

　　更新了戴爾 Precision 7760 屏幕顯示問題的黑名單